Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (3)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Lendel V$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
1.

Lendel V. V. 
Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them [Електронний ресурс] / V. V. Lendel, O. V. Lomakina, L. Yu. Mel'nychenko, I. A. Shaykevich // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 3. - С. 231-234. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_3_3
Within the Beattie spectroellipsometric method, we measured the ellipsometric parameters of thin Ti films deposited onto glass substrates by magnetron sputteung in argon atmosphere. Measurements were carried out at five angles of incidence with light from the visible and ultraviolet ranges of the spectrum. Using the Airy recurrent formulas, we solved the inverse problem of ellipsometry for a three-layer model of films. The model includes nine unknown quantities - three thicknesses of layers and six optical constants, namely: the refractive and absorption indices of all these layers. The results obtained show that the upper layer being in contact with air consists of titanium oxide ot the TiO2 type, the second layer is made of pure metallic titanium, and, finally, the third layer adjoining the glass substrate is also oxide TiO2. It is worth noting that the optical constants of the second layer are practically identical to those of massive Ti. The calculations of the film thicknesses and optical constants by using the one-layer model gave the values significantly different from the optical constants of massive titanium. In addition, the studies of both the electric conductance of the prepared Ti films and morphology of their surface with an atomic force microscope were carried out.
Попередній перегляд:   Завантажити - 709.241 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
2.

Vinichenko V. A. 
Optical and electrophysical properties of 95% In2O3 + 5% SnO2/ns-Si heterostructure [Електронний ресурс] / V. A. Vinichenko, V. V. Buchenko, N. S. Goloborodko, V. V. Lendel, A. E. Lushkin, V. N. Telega // Ukrainian journal of physics. - 2016. - Vol. 61, № 3. - С. 240-247. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2016_61_3_8
Попередній перегляд:   Завантажити - 800.24 Kb    Зміст випуску     Цитування
3.

Iliash S. A. 
Relaxation of photovoltage in ITO-Ge-Si heterojunction with Ge nanostructured thin films [Електронний ресурс] / S. A. Iliash, Yu. V. Hyrka, S. V. Kondratenko, V. S. Lysenko, Yu. M. Kozyrev, V. V. Lendel // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 2. - С. 259-261. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_2_22
The paper focuses on experimental study of the photovoltage time decay in ITO - Ge - Si heterojunction with Ge nanostructured thin film. Kinetics under 650 nm excitation within the temperature range 80 to 290 K are successfully described by a single exponential function with temperature-dependent decay constants. Photovoltage relaxation is modeled taking into account the hopping nature of electron transport in the band of localized states.
Попередній перегляд:   Завантажити - 191.524 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського